spectroscopie - Lux-Optic

Spectroscopie is een nieuwe productcategorie uit de product porto-folio van Lux-Optic. Deze technologie biedt nauwkeurige spectrale metingen in een totaal concept voor complete werkstations. Dit omvat lichtbronnen voor deep UV <-> NIR evenals cw-laser- en laserdiodes samen met geoptimaliseerde microscoopadapters. Of ze zijn direct in de microscoop gemonteerd of extern verbonden door een optical fiber. Extra diafragma’s of centreerbare luminous-field diaphragma’s verminderen de lichtverstrooiing en vergroten het dynamische bereik van het systeem.


 

 

 

Spectroscopie specificaties

Deze spectrometer is een open en flexibel concept. Het omvat combineerbare lineaire sensoren en biedt een spectrale resolutie tot 0,1 nm. Afhankelijk van de vereisten kan een workstation met een breed scala aan functionaliteiten worden samengesteld. Combinatie van CCD-sensoren of fotodiode-arrays met een holografisch rooster aan de binnenkant en een monolithische miniatuur spectrometer :

  • Biedt een hoog dynamisch bereik
  • Stabiliseert de signaal / ruis-verhouding
  • Vermijdt tijdrovende procedures voor het calibraties
  • Maakt systemen eenvoudig voor onderhoudsinterventies.

Ontdek de PDF hier

Microscope-spectroscopy.pdf
1.67 MB



Deze technologie maakt gebruik van standaard onderzoeksmicroscopen en routine statieven en modificeert hun optische deel om hun spectrale bereik te verlengen, beginnend bij 220 nm tot 2200 nm. Door de applicatie te beperken tot het bereik tussen 200 nm en 2200 nm kunnen consistente, reproduceerbare gegevens gedurende jaren eenvoudig worden gegenereerd.

Voor speciale toepassingen kan een Photomultiplier (PMT) worden gecombineerd met een monochromator tot een microscoopspectrometer in de typische stijl, wat resulteert in een concept dat vergelijkbaar is met de Zeiss MPM 800. PMT gebaseerde systemen bieden de mogelijkheid voor elektronische versterking om een ​​hoger dynamisch bereik te verkrijgen in vergelijking met een array-spectrometer. Bovendien kan het nadeel van ongewenst strooilicht effectiever worden onderdrukt door een combinatie van geïntegreerde blokkeerfilters.

 

SpectraVision Software-Concept

Het hart van ons microscoop-spectrometer-workstation is onze SpectraVision-software. Het bestaat uit de volgende functies:

  • Tool-box-modules voor volledig geautomatiseerde microscoopbesturing
  • Aanpassing voor vereisten in de dagelijkse routine
  • PC-gestuurde meting
  • Functies voor laboratoriumbehoeften
  • Functies voor geavanceerde toepassingen
  • Integratie van verschillende kalibratienormen volgens NIST of DIN 7404-5
  • Individuele routines voor microscopische spectroscopie op forensische monsters en petrografische studies

Daarnaast zijn er tal van rapportagefuncties beschikbaar, waarbij ofwel de eenvoudigste CMOS-camera’s voor beelddocumentatie of CCD-camera’s met hoge precisie voor fluorescentie-microscopie kunnen worden gebruikt. Ze breiden de meetopties uit met verschillende kwantitatieve opties voor beeldanalyse

 

Applicaties voor Microscoop Spectrometers

  • Vergelijken van structuren(bvb. fibers)

    Met behulp van een witte standaard of kalibratiestandaarden in combinatie met een gedefinieerde kleurtemperatuur en gestandaardiseerde lichtomstandigheden, kan de spectrometer de transmissie- of reflectiewaarden weergeven in functie van de golflengte. Door een spectrometer als microscoopfotometer (MPM) in QC van verven en coatings te nemen, kunnen de kleinste niet-homogeniteiten in pigmenten of in aangrenzende gebieden van een kleuroppervlak worden onderscheiden. Daarnaast maakt het een vergelijking van verschillende structuren en kleuren mogelijk – traditioneel gebruikt in onderzoek van glas en vezelanalyses als vergelijkende technologie.

  • Beoordeling van steenkool, olie en hun reservoirgeologie

    Microscopische reflectiemetingen bepalen de marktwaarde en de geschiktheid van fossiele brandstoffen. Naast chemische en fysische testmethoden vormen ze een essentiële voorwaarde voor de identificatie van grondstoffen. De tests zijn gestandaardiseerd en internationaal beschreven door de ASTM D2798, DIN / ISO-normen 7404-5: 1994 en DIN 22020-5: 2005. Reflecties van de Vitrinite-reflectantie en sporenkleurindex helpen ook bij het evalueren van het ontstaan van gesteentes uit aardoliebronnen en de thermische rijpheid van de sedimenten in verschillende regio’s. Voor deze metingen kunnen moderne lichtmicroscopen met sterk gestabiliseerde belichtingseenheden worden gebruikt als Brightfield-, polarisatie- en fluorescentiespectrometers.

  • Differentiatie van colloïdale oplossingen en nanostructuren

    Microscoop-spectrofotometers (MSP) dragen ook aanzienlijk bij aan de differentiatie van colloïdale oplossingen en nanostructuren. Met behulp van wiskundige algoritmen kan de grootte van de deeltjes en hun verdeling worden afgeleid van de spectra, hoewel de afzonderlijke nanodeeltjes onder de limiet van de resolutie van de microscoop liggen. Dit toont een ander voordeel van hoge resolutie microscoop spectroscopie. Het monster kan zonder veel moeite direct onder de microscoop worden gekarakteriseerd, en het vereist geen extra voorbereiding in tegenstelling tot een elektronenmicroscoop. Een robijnrood massief gekleurd glas wordt bijvoorbeeld meestal gemaakt door goudcolloïden met een grootte tussen 2 en 100 nm aan het gesmolten glas toe te voegen. De grootte en concentratie van de nanodeeltjes zorgen voor het robijnrode uiterlijk en tonen spectrale kenmerken zoals intensiteitspieken en uitgesproken halve breedten die kunnen worden gebruikt voor de evaluatie, terwijl de gebruikelijke kleurindruk van goud of vergulde oppervlakken ontbreekt.

  • Coating van oppervlakken / bepaling van laagdikten

    Microscoop-spectrometer kan ook worden gebruikt voor coatings van oppervlakken en het bepalen van laagdikten, waarbij semi-transparante materialen worden gebruikt. In meerlagige structuur vertonen de individuele coatings verschillende brekingsindices. Wanneer licht de grenslaag raakt, wordt het gescheiden in diffractie- en reflectie-elementen, wat resulteert in een karakteristiek interferentiepatroon van het reflectiespectrum. Met behulp van geschikte simulatiesoftware zijn wiskundige koppelingen in staat om de laagdikte op een substraat in het micrometerbereik te bepalen zonder de structuren die worden onderzocht te beschadigen. Dit voordeel van niet-destructieve materiaaltesten wordt gebruikt voor de studie van glasoppervlakken of in de productie van TFT-displays en voor homogeniteitsevaluatie van plasmapolymeercoatings voor het harden van componenten.

 

Afbeeldingen van Spectroscopie

Klik op de afbeelding om deze uit te vergroten.