Spectromètre de Lux-Optic

Le spectromètre est une nouvelle catégorie des produits dans notre portefeuille de microscopie chez Lux-Optic. Cette technologie offre des mesures spectrales précises dans le concept global pour les workstations complets. Cela comprend des sources de lumière pour les UV-NIR profonds, ainsi que des diodes lasers et des adaptateurs de microscope optimisés. Soit ils sont montés directement dans le microscope ou connectés extérieurement par une collimation de fibre. Des fentes d’ouverture supplémentaires ou des diaphragmes à champ lumineux centrables réduisent la diffusion de la lumière et augmentent la plage dynamique du système.


 

 

 

Caractéristiques de spectroscopie

Le spectromètre est un concept ouvert et flexible. Il comprend des capteurs linéaires combinables et offre une résolution spectrale jusqu’à 0,1 nm. En fonction des besoins, un poste de travail avec un large éventail de fonctionnalités peut être assemblé. Combinaison de capteurs CCD ou de réseaux de photodiodes avec un réseau holographique à l’intérieur d’un spectromètre miniature monolithique.

  • Offre une plage dynamique élevée
  • Stabilise le rapport signal sur bruit
  • évite de prendre du temps sur les procédures d’ajustement du site
  • Rend les systèmes faciles pour les problèmes de service.

 

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Cette technologie utilise des microscopes de recherche standard et des supports de routine et modifie leur partie optique pour étendre leur gamme spectrale allant de 220 nm à 2200 nm. Limiter l’application à la gamme entre 200 nm et 2200 nm des données cohérentes, reproductibles peuvent être facilement générées au fil des années.

Pour des applications spéciales, un photomultiplicateur (PMT) peut être combiné avec un monochromateur comme un spectromètre de microscope dans le style classique résultant dans un concept comparable à la Zeiss MPM 800. Les systèmes basés sur PMT offrent la possibilité d’amplification électronique d’un spectromètre à matrice. En outre, l’inconvénient d’une lumière parasite indésirable peut être supprimé plus efficacement par une combinaison de filtres de blocage intégrés.

 

Concept de SpectraVision Software

Le cœur de notre station de travail pour de spectromètre microscope est notre logiciel SpectraVision. Il comprend les fonctions suivantes:

  • Tool-box-modules pour un contrôle de microscope entièrement automatisé
  • Adaptation aux exigences de la routine quotidienne
  • Mesure contrôlée par PC
  • Fonctions pour les besoins de laboratoire
  • Fonctions pour applications avancées
  • Intégration de différentes normes d’étalonnage selon NIST ou DIN 7404-5
  • Routines individuelles pour la spectroscopie au microscope sur des échantillons médico-légaux et des études pétrographiques.

En outre, de nombreuses fonctions de rapport sont disponibles, dans lesquelles les caméras CMOS les plus simples pour la documentation d’image ou les caméras CCD refroidies de haute précision pour la microscopie à fluorescence peuvent être utilisées. Ils étendent les options de mesure par diverses options d’analyse d’image quantitative

 

Applications de spectromètres microscopiques

  • Comparaison de différentes structures (ex. fibres)

    En utilisant un étalon blanc ou des standards d’étalonnage en combinaison avec une température de couleur définie et des conditions de lumière normalisées, le spectromètre permet d’afficher les valeurs de transmission ou de réflectance en fonction de la longueur d’onde. Prenant un spectromètre comme microscope-photomètre (MPM) au QC des peintures et des revêtements, les plus petites inhomogénéités sur les pigments ou dans les zones adjacentes des surfaces de couleur peuvent être différenciées; en outre, il permet la comparaison de différentes structures et couleurs – traditionnellement les analyses de verre et de fibre médico-légales utilisent cette caractéristique comme technologie comparative.

  • Évaluation du charbon, du pétrole et de la géologie de leur réservoir

    Les mesures de réflectance microscopique déterminent la valeur marchande et l’adéquation des combustibles fossiles. En plus des méthodes d’essais chimiques et physiques, elles constituent une condition préalable essentielle à l’identification de la matière première. Les tests sont normalisés et décrits internationalement selon les normes ASTM D2798, DIN / ISO 7404-5: 1994 et DIN 22020-5: 2005. La comparaison de la réflectance de la vitrinite et de l’indice de couleur des spores permet également d’évaluer la genèse des roches mères et la maturité thermique des sédiments dans différentes régions. Pour ces mesures, des microscopes optiques modernes avec des unités d’éclairage hautement stabilisées peuvent être utilisés comme spectromètres à fond clair, à polarisation et à fluorescence.

  • Différenciation des solutions colloïdales et des nanostructures

    Les spectrophotomètres microscopiques (MSP) contribuent également de manière significative à la différenciation des solutions colloïdales et des nanostructures. En utilisant des algorithmes mathématiques, la taille des particules et leur distribution peuvent être déduites des spectres, bien que les nanoparticules individuelles soient en dessous de la limite de résolution du microscope. Ceci démontre un autre avantage de la spectroscopie de microscope à haute résolution. L’échantillon peut être caractérisé directement au microscope sans trop d’effort, et il ne nécessite aucune préparation supplémentaire contrairement à un microscope électronique. Par exemple, un verre coloré rouge rubis est généralement fabriqué en ajoutant des colloïdes d’or d’une taille comprise entre 2 et 100 nm au verre fondu. La taille et la concentration des nanoparticules fournissent l’aspect rubis et montrent des caractéristiques spectrales telles que des pics d’intensité et des demi-largeurs prononcées qui peuvent être utilisées pour l’évaluation, tandis que l’impression de couleur habituelle de l’or ou des surfaces plaquées or manque.

  • Revêtement des surfaces / détermination des épaisseurs de couches

    Le spectromètre à microscope peut également être utilisé pour le revêtement de surfaces et la détermination des épaisseurs de couches, où des matériaux semi-transparents sont utilisés. Dans une structure multicouche, les revêtements individuels présentent des indices de réfraction différents. Lorsque la lumière frappe la couche limite, elle est séparée en éléments de diffraction et de réflexion, ce qui résulte en un diagramme d’interférence caractéristique du spectre de réflectance. En utilisant un logiciel de simulation approprié, les raccords mathématiques sont capables de déterminer l’épaisseur de couche sur un substrat dans la gamme du micromètre sans endommager les structures qui sont examinées. Cet avantage d’un contrôle non destructif des matériaux est utilisé pour l’étude des surfaces vitrées ou dans la production d’écrans TFT ainsi que pour l’évaluation de l’homogénéité des revêtements de polymères plasmatiques pour le durcissement des composants.

 

Images du spectromètre

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